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报告题目：基于噪声分析方法的新型存储器可靠性研究

报告时间：2022/05/06 19:00-20:00

腾讯会议号：110-925-316

报告人：龚天成

报告摘要：新型存储器由于器件结构简单易于集成等优点，近年来受到了广泛的关注。然而，新型存储器的可靠性问题制约了器件的进一步发展。基于噪声分析的缺陷表征技术是研究可靠性问题的有效手段，可以描绘出器件失效过程的微观图像，提高对新型存储器件机理及可靠性的理解。本报告将介绍基于噪声分析的缺陷表征方法，并针对不同的新型存储器件，分析器件的失效机理，在此基础上提出优化可靠性的有效手段。

个人简介：龚天成，1992年生，中科院微电子所副研究员。2014年于西安电子科技大学获学士学位，2019年于中科院微电子所获博士学位，2019年－2021年于中科院微电子所从事博士后研究。现为中科院微电子所副研究员，主要研究方向为新型存储器件可靠性分析，以第一作者／共同一作身份发表IEEE VLSI, IEDM, EDL, TED等会议和期刊论文9篇。获国家自然科学基金青年基金、中国博士后科学基金特别资助（站中），中国科学院特别研究助理择优资助。